Jesteś tu: Strona główna » Aparatura » Dyfraktometr proszkowy

Dyfraktometr proszkowy

Bruker D8 Discover
pokój: R-210
tel.: +4822 8220211, wew.418

Opiekunowie przyrządu:

Dr hab. Ewa Górecka, Prof. UW
e-mail:

Dr Damian Pociecha
e-mail:
pokój: R-201, R-210
tel.: +4822 8220211, wew.442
+4822 8221075

Operatorzy przyrządu:

Dr hab. Ewa Górecka, Prof. UW
e-mail:

Dr Damian Pociecha
e-mail:

mgr Sławomir Domagała
e-mail:


Opis przyrządu:
Dyfraktometr proszkowy, pracujący z lampą miedzową (promieniowanie o długości 1.54Å) w geometrii wiązki zbieżnej Bragg-Brentano lub wiązki równoległej (z lustrem Goebla) wyposażony w przystawki temperaturowe umożliwiające pomiar w zakresie -180 do 350º C. Pomiary wykonywane mogą być z użyciem licznika punktowego (scyntylacyjnego) lub liniowego (VANTEC, 1600 kanałów o rozmiarach 10 mikronów) z możliwością swobodnej orientacji próbki (koło Eulera, stoliki przesuwne X,Y,Z). Aparat wyposażony jest w stolik do pomiarów reflektometrycznych. Możliwe są również pomiary wysokorozdzielcze z użyciem monochromatora germanowego (eliminacja linii Kalpha2 z widma miedziowego).

Serwis:
Aparat jest przystosowany zarówno do rutynowych pomiarów próbek proszkowych (wyznaczanie komórki elementarnej, analiza ilościowa, etc.) jak i bardziej wyspecjalizowanych np.badania próbek częściowo zorientowanych, badania cienkich warstw. Aparat umożliwia również analizę grubości, rozkładu gęstości elektronowej w cienkich warstwach molekularnych (pomiary reflektometryczne) jak i uporządkowania w tych warstwach (pomiary "grazing incidence").

Zastosowanie:
  • wyznaczanie komórki krystalograficznej i jej zmian w funkcji temperatury
  • wyznaczenie grubości, szorstkości i rozkładu gęstości elektronowej w cienkich warstwach także w multiwarstwach
Dokumenty i formularze:
Cennik
Przygotowanie i sposób dostarczenia próbki
Formularz zgłoszenia pomiaru
Odbiór danych
Dokumenty i formularze:
Formularz zlecenia pomiaru